一款由闭合导通环路等组成的33CX201可控硅快速测试仪电路图-凡亿PCB

一款由闭合导通环路等组成的33CX201可控硅快速测试仪电路图
time : 2019-10-12 09:22 作者：凡亿pcb

以下为一款可控硅快速测试电路图。

主要由555组成。该测试仪由脉冲信号发生器、闭合导通环路、发光二极管、可控硅SCR等组成。插上可控硅SCR，当按下按钮AN后，在555输出高电平时，发光二极管LED1、电阻R4、可控硅SCR、晶体管BG2形成闭合回路，发光管LED1发光；当555输出低电平时，LED2、R4、SCR、BG1形成闭合回路，发光管LED2发光，说明可控硅是好的。

在测试时插上可控硅SCR后，发光管LED1、LED2应不亮，否则说明T1、T2的两极已短接。多谐振荡器，其振荡频率为f=1.44/(R1+2R2)C。图示参数对应的振荡频率约为1Hz。由于R1<<R2，故电容C充电所对应的时间t充=0.693(R1+R2)C，与电容C放电所对应的时间t放=0.693R2C十分接近，所以脉冲发生器输出脉冲的占空比接近1:1。

可控硅快速测试仪电路图

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